在專利布局分析中，對技術(shù)主題進(jìn)行解析，建立全面完整的技術(shù)分解體系，將有助于相關(guān)專利數(shù)據(jù)的前期檢索，同時(shí)也為形成高價(jià)值專利的有效布局提供重要保障。技術(shù)分解體系構(gòu)建得完整與否，直接關(guān)系著企業(yè)最終專利保護(hù)的效果，因此這是十分重要的。在分析技術(shù)主題，構(gòu)建技術(shù)分解體系時(shí)，可以考慮專利分類號進(jìn)行技術(shù)分解。 

常用的專利分類號包括：IPC（國際專利分類）、CPC（聯(lián)合專利分類）、FI/F--Term（日本專利分類）等。

其中以IPC分類法應(yīng)用最為廣泛，包含約69000個(gè)細(xì)分分類號，按技術(shù)領(lǐng)域分為部門、大類、小類、大組、小組等不同等級。

CPC專利聯(lián)合分類是在IPC國際專利分類基礎(chǔ)上更為細(xì)分的分類體系，其更是包含了約26萬個(gè)細(xì)分的分類號，并且在IPC八個(gè)部級分類領(lǐng)域的基礎(chǔ)上增加了一個(gè)（Y部）的分類，用于新興產(chǎn)業(yè)技術(shù)和交叉的跨領(lǐng)域技術(shù)等。

在FI/F--Term中，F(xiàn)I分類包含大約200，000個(gè)子類別，F(xiàn)--Term分類包含大約340，000個(gè)子類別。分類細(xì)致和立體化多角度是FI/F--Term分類他體系的特點(diǎn)。 

除了主要分類編號外，還有其他商業(yè)數(shù)據(jù)庫專利分類標(biāo)準(zhǔn)，如德溫特分類代碼DC和德溫特手工代碼MC等，也可以作為建立技術(shù)分解體系的參考。